通過微分干涉顯微鏡來對材料進行顯微分析，可以采用微分干涉相襯法做為一種觀察方式使用。 微分干涉相襯法(DIC)做為一個比較先進的金相分析檢驗的方式，它對試樣的制作要求比較低。

   微分干涉能夠非常容易判斷許多明場下所看不到的一些結構細節或缺陷，可以拍攝彩色的顯微照片。顯微觀察到的試樣組織的相對層次關系非常明顯，呈明顯的浮雕狀，裂紋、孔洞、對顆粒和凸起都可以很方便的做出正確的判斷。    

在金相顯微鏡檢驗方法中，微分干涉相襯法(DIC)是金相檢驗的一種強有力的工具，其特點主要為:  

   1、微分干涉對金相樣品的制樣要求比較低，對于某些金相試樣，甚至可以只需進行拋光，而不必腐蝕處理即可進行觀察。它可以很簡單的就可以觀察到試樣物體表面的狀態情況，如果把試樣進行拋光以后在真空的狀態下發生馬氏體的相變，不用進行腐蝕也可觀測到馬氏體的相變浮凸形態。 

 2、所觀察到的試樣的表面具有非常明顯的凹凸立體感，呈浮雕狀，試樣各種組成相間的相對層次關系都能清晰的顯示出來，對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等都可以正確的判斷，提升了金相檢驗的準確度，同時也增加了各相間的反差。 

目前在世界范圍中基于微分干涉相襯法所進行材料金相研究的工作非常少。原因主要有兩個方面:一方面是現在配備了微分干涉相襯部件的金相顯微鏡不交少；另一方面，許多材料科學研究人員還沒有發現微分干涉相襯法在材料研究中優點。